Eksempel på kartlegging

Basert på den fysiske prøven levert av kunden (selv om det er en slitt eller brukket del), tilbyr vi en fullspektertjeneste som strekker seg fra omvendt utvikling av fysisk struktur til fysisk-kjemisk karakterisering på materialnivå. Ved å utnytte høypresisjons inspeksjonsutstyr av halvlederkvalitet, kvantifiserer vi komplekse 3D geometriske strukturer, belegg-/substratgrensesnittegenskaper og fysiske materialparametere nøyaktig, og sikrer at det omvendte konstruerte produktet oppfyller eller overgår OEM-standarder i fysisk passform, prosesskompatibilitet og levetid (Form-Fit-Function Replacement).

Hva vi måler (tekniske leveranser):

• Dimensjonale og geometriske toleranser:Ved å bruke høypresisjonskoordinatmålemaskiner (CMM) og optiske 3D-skannere, utfører vi punktsky-modellering i full størrelse og rekonstruksjon av komplekse hulromsstrukturer og monterings-/lokaliseringshull, og oppnår nøyaktighet på mikronnivå.
• Overflatemikromorfologi og flathet:Bruk av interferometre med hvitt lys og optiske profilometre for å evaluere overflateruhet (Ra) i nanometerskala og flathet i store områder, og oppfylle kravene til håndtering av skiver og kammerforsegling.
• Edge mikrofunksjoner:Kartlegging med høy forstørrelse av kant R-radii og avfasning mikro-profiler for å optimalisere beleggets klatremorfologi og unngå spenningskonsentrasjon ved skarpe hjørner som kan forårsake høytemperaturdelaminering.
• Grafittsubstrat og termisk matchingsanalyse:Vurdering av høyrent grafittsubstrattetthet, kornstørrelse og termisk ekspansjonskoeffisient (CTE) for å sikre termisk spenningsmatching mellom substrat og CVD-belegg.
• Belegg Tverrsnitt og grensesnittlimingskvalitet:Ikke-destruktiv XRF og metallografisk tverrsnitt SEM-analyse for å måle absolutt tykkelse, radiell ensartethet av CVD-belegget og grensesnittpenetrasjonsdybde.
• Fasestruktur og mikrokrystallanalyse:XRD-evaluering av kubisk fase (β-SiC) renhet av CVD SiC; kvalitativ vurdering av kjemisk støkiometri og krystallstrukturkarakteristikker til CVD TaC.

Virkelig sak og kundefordeler (erfaring):

En 12-tommers halvlederetsingskomponentkunde:OEM-forsyningen avviklet; kun en slitt brukt del var tilgjengelig. Gjennom CMM omvendt modellering + SEM-belegg tverrsnittsanalyse, fullførte vi erstatningsdelutvikling og testing på verktøyet innen 2 måneder uten noen originale tegninger, og oppnådde 100 % installasjonspassform. Til syvende og sist ble komponentinnkjøpssyklusen redusert fra den opprinnelige 6-måneders importtiden til 2 måneder, enhetsanskaffelseskostnadene falt med 42 %, og denne modellen har blitt stabilt levert for mer enn 30 batcher.

Silisiumkarbid (SiC) belegg på SEM belegg tverrsnitt

FAQ

Start din eksklusive tjeneste nå