Tjenester og ressurser

Optimalisering og masseproduksjon

Den største utfordringen med en jevn overgang fra New Product Introduction (NPI) til High-Volume Manufacturing (HVM) er konsistens. Gjennom prosesslåsing, SPC statistisk prosesskontroll og dybdediagnose av felt-returnerte deler, sikrer vi at det 1000. produktet ikke kan skilles i kvalitet fra den første prøven.

Masseproduksjonssikringssystem:

  • CVD-produksjonskapasitet med stor kapasitet og enhetlig termisk felt:Flere store, flersoners CVD-reaktorer med høy renhet muliggjør effektiv avsetning på store grafittsubstrater, og sikrer ekstremt høy konsistens av termiske felt og strømningsfelt under batchproduksjon.
  • Strenge "Copy-Exact"-kontroll:Etter masseproduksjonsvalidering låses grafittråmaterialepartier, CNC-maskineringsruter, CVD-reaksjonsgassrenhet, ovnstemperaturrampekurver og kammertrykk, noe som minimerer batch-til-batch-variasjon.
  • SPC statistisk prosesskontroll:Fullprosessovervåking av kritiske beregninger som filmtykkelsesfordeling, overflateruhet og resistivitet under volumproduksjon, driver kjerneparametere til stabil konvergens med full datasporbarhet.
  • Dybdediagnose av felt-returnerte deler:Samarbeid med kunder for å utføre mikroskopisk diagnose (SEM + tverrsnittsanalyse) av deler som returneres fra ekstreme driftsforhold, nøyaktig lokalisering av lokal slitasje og spenningskonsentrasjonspunkter.
  • Dynamisk finjustering av struktur- og prosessoppskrifter:Basert på reelle kammerslitasjedata, reversoptimer komponentgeometri og avsetningsprosessparametere for å forlenge levetiden til påfølgende batcher fra kilden, og danner en god syklus.

Virkelig sak og kundefordeler (erfaring):

En ledende produsent av TOPCon fotovoltaiske celler:Under den første introduksjonen viste grafittbåttilbehør variasjon i filmtykkelse (±15 %) mellom batcher, noe som påvirket jevnheten av belegget. Vi startet full-prosess SPC-overvåking og låste tre kritiske prosessparametere (avsetningstemperatur, gassstrømningshastighet, kammertrykk).I løpet av 3 uker ble jevnhetsvariasjonen i filmtykkelsen redusert fra ±15 % til innenfor ±3 %.Linjen har nå blitt stabilt levert for mer enn 200 batcher, med batchpasseringsrate konsekvent over 99,2 %, noe som hjelper kunden med å redusere wafer-bruddfrekvensen med 1,5 %.

SPC process control chart

FAQ

1. Spørsmål: Hvordan bør jeg velge mellom CVD SiC-belegg og CVD TaC-belegg?

▼

EN:Se på prosesstemperaturen og gassfasekorrosjonsintensiteten. Hvis prosesstemperaturen er under 1000 °C og hovedsakelig involverer Cl₂/F₂-basert etsing eller konvensjonell epitaksi, velgCVD SiCfor den beste kostnadsytelsen; hvis prosesstemperaturen overstiger 1200 °C og involverer sterkt korrosive atmosfærer (f.eks. SiC PVT enkrystallvekst), anbefaler viCVD TaC, som tilbyr overlegen temperatur og korrosjonsbestandighet. Vi kan tilby en gratis utvalgsanbefalingsrapport basert på dine spesifikke prosessparametere.

2. Spørsmål: Støtter du prototyping i ett stykke / liten batch? Hva er ledetiden?

▼

EN:Ja! For reverse engineering prototyper,MOQ er 1 stk. For konvensjonelle enkle deler, fra mottak av prøve til levering av kartlagt del, er den raskeste ledetiden ca.10–15 virkedager; for deler som involverer komplekse belegningsprosesser er det ca20–25 virkedager. Kontakt våre ingeniører for rask evaluering.

3. Spørsmål: Hva forårsaker delaminering av CVD-belegg på grafittdeler under bruk? Kan det løses?

▼

EN:90 % av delamineringstilfellene er forårsaket av misforhold mellom termisk ekspansjonskoeffisient (CTE) til grafittsubstratet og belegget, noe som fører til tretthetsavskalling under rask oppvarming/avkjøling. Vår løsning: Mål først nøyaktig CTE-kurven til den originale delen, og juster deretter substrattettheten og avsetningstemperaturgradienten spesielt slik at de to CTE-ene er godt tilpasset. Bindingsstyrken kan forbedres til mer enn1,5 gangerbransjens konvensjonelle nivå.

4. Spørsmål: Kan du gi et CoA (Analysesertifikat) for produktene? Hvilke data inneholder det?

▼

EN:Hvert levert produkt leveres standard med enunikt serienummer + full CoA-rapport. Rapporten inkluderer: CMM-inspeksjonsdata for kritiske dimensjoner, fordelingskart for flerpunkts beleggtykkelse, verdier for overflateruhet (Ra) og analysekonklusjoner for materialrenhet (GDMS).

Start din eksklusive tjeneste nå

Telefon: +86-18069220752(Tina);+86-15988690905(Sera)

E-post: anny@veteksemi.com

X
Vi bruker informasjonskapsler for å gi deg en bedre nettleseropplevelse, analysere nettstedstrafikk og tilpasse innhold. Ved å bruke denne siden godtar du vår bruk av informasjonskapsler. Personvernerklæring
AvvisAkseptere